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Dipl.-Ing.

Joachim von Oppen

European Patent Attorney, European Trade Mark and Design Attorney, Patentanwalt
Ort: Berlin
Tel +49 30 841887-0
Fax +49 30 841887-77
Joachim von Oppen

Studium des Maschinenbaus an der Rheinisch-Westfälisch Technischen Hochschule Aachen mit den Schwerpunkten Steuer- und Regelungstechnik, Simulation, Energie- und Strömungstechnik. Mitarbeit an Projekten der Luftfahrttechnik als Mitglied und Vorsitzender der Flugwissenschaftlichen Vereinigung Aachen. Diplom 1993 auf dem Gebiet der Regelungstechnik.

Juristische Ausbildung bei Eisenführ Speiser, der Fernuniversität Hagen und beim Deutschen Patent- und Markenamt sowie beim Bundespatentgericht in München; mehrmonatige Praktika bei einer US- Patentanwaltskanzlei in den Jahren 1994 und 1997. Patentanwalt seit 1997, European Patent Attorney sowie European Trademark and Design Attorney, Partner.

Joachim von Oppen hat spezielle Erfahrungen auf dem Gebiet des Schutzes und der Verteidigung technischer Erfindungen; namentlich in den Bereichen Maschinenbau, Regelungstechnik, Optik, Aerodynamik, Medizintechnik, Textilmaschinen und Faserverbundwerkstoffe, Halbleiterstrukturen, Software und Verpackungen. Ferner auf den Gebieten des Design- und Markenschutzes.

Leiter des Berliner Seminars des Centre d´Études Internationales de la Propriété Intellectuelle (CEIPI) an der Universität Straßburg für europäisches Patentrecht. Dozent bei Management Circle.

Joachim von Oppen beschäftigt sich außerdem mit der Normung von IP-Bewertung und IP Management.

Sprachen: Deutsch, Englisch, Französisch

Mitgliedschaften: Patentanwaltskammer (PAK), Institut der beim Europäischen Patentamt zugelassenen Vertreter (epi), Deutsche Vereinigung für gewerblichen Rechtsschutz und Urheberrecht (GRUR), Fédération Internationale des Conseils en Propriété Industrielle (FICPI), Vereinigung von Fachleuten des gewerblichen Rechtsschutzes (VPP)

Publikationen / Vorträge

  • Joachim von Oppen, Eine DIN-Norm zur monetären Bewertung von Patenten: DIN 77100 „Patentbewertung – monetäre Bewertung von Patenten“, Mitt. 2012, Heft 11, 486 ff.